初始化 JTAG 器件:配置测试复位序列
来源:xjtag.com | 作者:风标电子工程师 | 发布时间: 2024-04-12 | 126 次浏览 | 分享到:

一些JTAG器件需要设置特定的复位序列应用于TAP信号,使其进入JTAG兼容模式,才能正常测试。下面就来介绍在xjtag的XJDeveloper软件中如何设置测试复位序列。


测试复位序列可以使用JTAG Chain Debugger来定义。这个测试序列可以作为引脚映射文件(*.xjpm)的一部分保存下来,所以在其他XJTAG软件中也使用。















也可以在XJDeveloper的pin mapping屏幕或XJAnalyser的项目设置向导中创建。

下面以TMS320系列DSP为例。为了确保 DSP 检测到 nTRST 上的上升沿,某些器件需要将 nTRST TAP 信号保持低电平几个 TCK 周期,然后再将其设置为高电平。TMS320在设置好JTAG控制器的引脚(Pin Mapping中设置)后,然后在Test Reset Sequence中创建测试复位序列,每个步骤都允许一个TAP信号改变状态:


1.使用“Add...”按钮创建新序列并提供名称。


2.从窗口底部的Add Pin菜单中添加相关的 TAP 信号。在此示例中,需要 TCK 和 nTRST。但是,最好也包括TMS,以确保它在序列中保持高电平。


3.向测试复位序列添加多个步骤,并通过双击单元格(或使用空格键)来使信号转换,这会在高阻抗、低阻抗和高阻抗之间切换信号的状态。在本例中,在nTRST取高之前提供了四个TCK上升沿,以满足特定器件的要求。


4.TMS Reset应使用窗口底部的“Add Step”菜单在序列末尾添加。这样,一个测试复位序列就完成了,JTAG器件就能进入JTAG兼容模式来进行测试。


5.完成后如下图