XJTAG是一款创新的边界扫描软硬件套件,能够快速测试、调试和编程复杂嵌入式电子设备。XJTAG产品支持JTAG测试访问协议——该协议内置于FPGA、CPLD及大多数CPU设备中——支持在印刷电路板上的互连测试。
XJTAG的使命是帮助工程师快速便捷地完成PCB调试和测试,使客户能够专注于更快开发更优质的产品,并实现更具成本效益的制造。
没有。JTAG,也称为边界扫描,是一种嵌入许多芯片中的测试访问协议。它是一套IEEE标准(1149.x),允许任何厂商的JTAG支持IC通过简单的4信号接口连接和访问。
通过从内部控制设备,XJTAG的边界扫描产品可测试访问电路板上数千个电路节点,包括球栅阵列(BGA)器件下的引脚,这些引脚是传统探针无法访问的。
JTAG 也用于处理器调试/仿真和系统内编程。
要用边界扫描测试板,你需要板子网表和板上JTAG兼容设备的BSDL文件。边界扫描测试的方法性质是将被测设备(DUT)返回的数据与该电路板的设计进行比较。网表给我们设计信息,BSDL文件则告诉我们设计中哪些部分可以用边界扫描控制/监控。
XJTAG测试系统利用这些信息生成一组“测试载体”,以刺激电路板,使我们能够尽可能验证电路板的制造完整性。该测试覆盖范围不仅限于板上符合JTAG的设备,还证明了支持JTAG的设备能够与不具备任何JTAG能力的设备交互。
并非所有设备都具备JTAG功能。通常处理器、数字信号处理器(DSP)、FPGA、CPLD、部分以太网设备和QDR RAM都配备JTAG接口,以及一些ASIC。像RAM和闪存这样的设备通常不具备这种能力。
对于支持 JTAG 的设备,XJTAG 使用其功能作为控制机制,就像钉床机使用测试夹具作为控制机制一样。我们用这些设备驱动它们所连接的网络,并在测试运行时监控这些网络的数值。
通常可以使用支持JTAG的设备与不兼容设备的功能交互,以获得被测器件的最佳测试覆盖率。考虑连接处理器和内存设备的网络。这些网可以通过我们的自动互联测试进行短路故障测试——系统会刺激其中一张网,并检查其他网是否读取驱动值。然而,这种测试无法检测处理器或内存的开路故障。尽管如此,可以创建一个将数据写入内存阵列并读取数值的测试,该测试还能检测两台设备的开路故障。
在某些情况下,测试方式可以更进一步——例如,外部连接器通常可以通过连接环回电缆,然后发送和接收数据来验证网络的运行,而这些网络与板上支持JTAG的设备没有直接连接。
很遗憾,这不可能。JTAG边界扫描是设备制造商必须添加的功能,不能在后续阶段添加。
XJTAG 利用 BSDL 文件中的信息来计算如何访问 JTAG 链中的设备。基于VHDL的边界扫描描述语言(BSDL)用于描述JTAG(IEEE 1149.1)在特定设备上的实现方式。
这些文件通常可以从元件制造商的网站下载。一些制造商要求发布保密协议(NDA)才能发布这些文件,但大多数制造商会公开这些文件。
虽然IEEE 1149.1(JTAG)标准定义了用于JTAG设备的某些标准单元类型,但一些制造商使用非标准单元类型,这时XJTAG需要额外信息来使用这些器件。请点击上方链接,了解如何识别此类设备并向XJTAG系统提供额外信息。
JTAG系统在模拟设备方面只能进行有限的测试——JTAG属于数字技术。JTAG引脚可以设置为高电平或低电平,但驱动到网络的电压由所用设备决定。同样,JTAG设备可以捕捉(读取)数字值1或0,但不会报告1是由3.3伏电压还是2.8伏电压引起的。
边界扫描可以检测电阻是否连接了两个网,前提是有机制检测电阻两侧的开路故障。例如,如果电阻是将处理器连接到RAM,那么只有电阻存在时才能验证与RAM的连接。然而,无法通过边界扫描检测该电阻是0R电阻、100R电阻甚至1K电阻,因为符合JTAG标准的设备能够将信号驱动到所有这些数值。
同样,如果网管上有拉电阻,可以根据是上拉还是下拉,测试未驱动网的数字值是否正确。然而,电阻的数值无法确定,因此1K电阻在边界扫描测试中看起来与4.7K电阻相同。
被测器件的大多数电容位于电路板的电源部分,通常JTAG访问较差。其他方法可能对边界扫描测试通常进行的低速测试影响不大。不过,如果两侧的JTAG兼容设备都支持较新的1149.6 JTAG标准,可以在串联耦合电容上进行一些测试。如果需要对这些组成部分进行全面测试,则应将边界扫描测试与信息通信技术结合使用以获得最佳效果。
为了获得最佳的边界扫描测试覆盖率,PCB应从一开始就考虑JTAG设计。尽可能选择符合JTAG标准的器件,提供对JTAG链的访问,并遵循良好的测试设计(DFT)实践,可以显著提升故障覆盖率,简化制造测试和电路板的启动。
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